高頻LCR數字電橋   型號：DL-TH2826A

性能特點
■ 國內臺符合LXI標準的LCR表
■ 測試頻率20Hz～5MHz，10mHz步進
■ 測試電平10mV～5V, 1mv步進
■ 基本準確度0.1%
■ 達200次/s的測量速度
■ 320×240點陣大型圖形LCD顯示
■ 五位讀數分辨率
■ 可測量22種阻抗參數組合
■ 四種信號源輸出阻抗
■ 10點列表掃描測試功能
■ 內部自帶直流偏置源
■ 外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）
■ 電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能
■ V、I測試信號電平監視功能
■ 圖形掃描分析功能
■ 20組內部儀器設定可供儲存/讀取
■ 內建比較器,10檔分選及計數功能
■ 多種通訊接口方便用戶聯機使用
■ 2m/4m測試電纜擴展（選件）
■ 中英文可選操作界面
高頻LCR數字電橋 簡要介紹
■TH2826系列元件測試儀是國內臺符合LXI標準的新
一代阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz
的頻率范圍可以滿足元件與材料大部分低壓參數的測量
要求，可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷
電容器、液晶顯示器、變容二管、變壓器等進行諸多電
氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
■TH2826系列產品高速的測試速度使其特別適用于
自動生產線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等
等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家
的不同標準需求。
■TH2826系列產品以其的性能可以實現商業標準和軍
用標準如IEC和MIL標準的各種測試。
 廣泛的測量對象
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、
芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
半導體元件：變容二管的C-VDC特性；晶體管或集成電路
的寄生參數分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻
抗評估
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗
角評估
半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
TH2826/TH2826A
技術參數
測試參數C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率
TH2826 20 Hz～5MHz,10mH步進
TH2826A 20 Hz～2MHz,10mH步進
測試信號電
平
f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV）
輸出阻抗10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度0.1%
顯示范圍
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C 0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D 0.0001 ～ 9.9999
Q 0.0001 ～ 99999
θ -179.99°～ 179.99°
測量速度快速: 200次/s（f﹥30KHz）,100次/s（f﹥1KHz）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能開路 / 短路點頻、全頻清零，負載校準
等效方式串聯方式, 并聯方式
量程方式自動, 保持
顯示方式直讀, Δ, Δ%
觸發方式內部, 手動, 外部, 總線
內部直流偏
置源
電壓模式
-5V ～ +5V,
±（10%+10mV）, 1mV步進
電流模式（內
阻為50Ω）
-100mA ～ +100mA,
±（10%+0.2mA）,20uA步進
比較器功能10檔分選及計數功能
顯示器320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器可保存20組儀器設定值
接口
USBDEVICE（ USBTMC and USBCDC support）
USBHOST（FAT16 and FAT32 support）
LAN（LXI class C support）
RS232C
HANDLER
GPIB（選件）

產品名稱： SDI儀 污染指數檢測儀 SDI污染指數測定儀  產品型號：SDI 鋁合金過濾器

 SDI儀 污染指數檢測儀 SDI污染指數測定儀 型號： SDI 鋁合金過濾器

SDI測試儀使用說明書 
一、產品說明：  
污染指數測試儀(SDI儀)； 
測試范圍：0-6.7SDI單位； 
堵塞因子范圍：1-100%； 
進水接口：1/2英寸外絲快速接頭； 
進水壓力：65-100 psi (4.5-6.9 bar)。 
    本產品主要用于反滲透系統中SDI（污染指數）值的測定，嚴格按照美國ATME標準生產。用來測試水（液體）在一定壓力下，通過濾膜，過濾流量衰減情況來計算SDI值。 
    產品備件齊全，供應及時。服務周全到位，產品技術支持由美國及中國的專家提供。該儀器的計量測試數據精確，驗證重復率高。 
二、SDI（污染指數）值檢測及計算方法:  
    1、將SDI測試儀安裝在RO系統的測試位置上。如果測試點在預處理系統后，那么當測試SDI值時，RO系統應該正常運行，否則Z后的測試結果就會無效。  
    2、開始時，SDI測試儀內不能放0.45μm微孔過濾膜。  
    3、測試儀連接完成后，打開測試儀上的閥門，讓被測水直接流過測試儀幾鐘。       
    4、關上閥門，用鑷子放一張Ф47mm，精度0.45μm的微孔過濾膜（亮的一邊朝上）在測試儀的膜盒支撐板上并輕輕地壓緊“0”型圈及膜盒上蓋，擰上螺絲，但不要太緊。  
    5、將閥門打開一部分，當水流過測試儀時，慢慢旋松一個或兩個螺絲，讓水漫出測試儀，以逐出測試儀內的空氣。  
    6、確定測試儀內已經沒有空氣了，輕輕旋緊螺絲。*打開閥門，將減壓閥壓力調節到0.21MPa　（207KPa），保持住該壓力，關上閥門。整個測試期間，壓力必須保持不變。  
    7、用合適的容器收集水樣本。只要保證每次用同樣的容量測試，容量的大小并不重要。容量可在100到500毫升之間。不同的容器都可用：例如量筒、大口杯等，一般考慮收集500毫升水樣。  
    8、*打開閥門，用秒表測量收集500毫升水樣所需要的時間，并記錄為T（1）＝__秒。收集完后，仍繼續保持閥門打開，讓水繼續流出。  
    9、過5分鐘后再用秒表測量收集另一個500毫升水樣所需要的時間并記錄為T（5）＝__秒，過10及15分鐘后各做一遍同樣的測試并分別記錄為T（10）和T（15）。檢測結束后，SDI值就能被計算出來。有些水樣數據采樣可能要求延續到T（20），T（30）甚至T（60），當然這種水樣是少數的。  
    10、測定水溫。在整個測試期間，水溫必須保持*。  
    11、SDI值由下列公式計算得出： SDI＝100P30／Tt＝100（1—T1／T2）／Tt  
P30——在207kpa進水壓力下的堵塞指數，即（1—T1／T2） 
Tt總測試時間（分）通常為T15，此時P30＜75％，不然測試T10或T5，使此時的P30＜75％ 
T1——初始時收集500ml水樣所需的時間（秒） 
T2——經T1（通常為T15，即15分鐘）后收集500ml水樣所需的時間（秒）。