里氏硬度計 硬度計 便攜式硬度計  型號：TC-HLN-11A

產品編號：TC-000919

產品說明

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沖擊裝置D: 用于大部分硬度測量
沖擊裝置DC :用于非常局促地方（孔內、圓柱園內）的測量
沖擊裝置D十15 :用于溝槽內或凹入的表面硬度測量
沖擊裝置E: 用于高硬度，碳化物含量高的工具鋼的硬度測量
沖擊裝置C: 用于表面硬化了的部件，表面覆蓋層，薄壁的硬度測量
沖擊裝置G: 僅用于布氏硬度650HB范圍內的密實部件的硬度測量
沖擊裝置DL: 用于深槽槽底或型面（如齒面）等零件的測量
主要技術參數
示值誤差: 相對誤差±0．8％（LD=800時）
示值重復性*．8％（LD=800時）
硬度被測材料: 鋼和鑄鋼、合金工具鋼、灰鑄鐵、球墨鑄鐵、鑄鋁合金、銅鋅合金（黃銅）、銅錫合金（青銅）、純銅等
強度被測材料: 碳鋼、鉻鋼、鉻釩鋼、鉻鎳鋼、鉻鉬鋼、鉻錳硅鋼、高強度鋼、不銹鋼
工作溫度: 0--40℃
工作電壓: 4.7V--6.0V
測試方向: 任意
整機重量: 0．675Kg（標準配置：硬度計主機十打印裝置十沖擊裝置D）
外形尺寸: 270×86×47（mm）
一次充電工作時間: 約24小時里氏硬度計 硬度計 便攜式硬度計 

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　TC-HLN-11A里氏硬度計是一種新型的硬度測試儀器，它是根據的里氏（Dietmar Leeb）硬度測試原理利用的微處理器技術設計而成。TC-HLN-11A里氏硬度計具有測試精度高、體積小、操作容易、攜帶方便，測量范圍寬的特點。它可將測得的HL值自動轉換成布氏、洛氏、維氏、肖氏等硬度值并打印記錄，它還可配置適合于各種測試場合的配件。TC-HLN-11A里氏硬度計可以滿足于各種測試環境和條件。
沖擊裝置名稱 用途

手持式里氏硬度計 里氏硬度計 型號：TIME5310

手持式里氏硬度計產品特點： 
里氏硬度測量原理，便攜性能好； 
采用數字化沖擊裝置，可配備所有7種探頭，探頭類型自動識別，更換時無需重新校準； 
外觀新穎，熱敏微型打印機隱藏式設計； 
可通過集成熱敏微型打印機打印任意份數的測量結果； 
采用2.5英寸彩色TFT液晶顯示屏，240´320圖形點陣，262K彩色，帶LED背光； 
顯示屏背光亮度按鍵可調，適應不同的亮度環境； 
全中文顯示，菜單式操作； 
主顯示界面具有時間、存儲器信息、電池信息、電子柱、差提示、沖擊裝置類型、幫助等信息內容，方便實用； 
HL、HV、HB、HRC、HRB、HS、HRA等7種硬度值及抗拉強度實現一次測量； 
大容量存儲器，可存儲1000組單次測量值、平均值、測量日期、沖擊方向、次數、材料、硬度制等信息； 
可預先設置硬度值上、下限，出范圍自動報警，方便用戶批量測試的需要； 
具有示值軟件校準功能； 
具有“鍛鋼（Steel）”材料，使用D/DC型沖擊裝置測試“鍛鋼”試樣時，可直接讀取HB值，省去人工查表的麻煩； 
兼容國內/國外轉換表，布氏測量更準確； 
內置大容量鋰離子電池及充電控制電路，有充電指示燈；電池無記憶效應，壽命長； 
具有USB接口，并可根據用戶要求配備上位機軟件，測量數據能以Word或Excel格式傳輸到上位機，滿足質量保證活動和管理的更高要求； 
5分鐘無操作自動關機。 
技術參數 測量范圍 170~960HLD 
示值誤差和示值重復性 示值誤差： ±6HLD（790±40HLD時） 重復性誤差：6HLD（790±40HLD時）  
測量方向 360。  
硬度制 HL、HB、HRA、HRB、HRC、HV、HS 
顯示 2.5英寸TFT液晶顯示器，240´320圖形點陣，262K彩色  
數據存儲 1000組測量數據，包含相關測量信息  
上下限設置范圍 同測量范圍  
工作電壓 3.7V 
充電時間 約6小時  
充電電源 12V/500mA 
可持續工作時間 約20小時  
通訊接口標準 USB2.0 
標配 主機、D型數字化沖擊裝置、標準里氏硬度塊、小支承環、充電器、熱敏打印紙  
可選附件 其它數字化沖擊裝置、各種異型支承環、上位機軟件 

里氏硬度計型號:TIME5104

TIME5104里氏硬度計是一種新型的袖珍式一體化硬度測試儀器，主要適用于測試金屬材料的硬度，具有測試精度高、體積小、操作容易、攜帶方便，測量范圍寬的特點，它是以里氏硬度為原理，測出里氏（HL）硬度值經過程序自動轉換成布氏，洛氏，維氏，肖氏等硬度值,還可以配置各種測試配件，來滿足于各種測試條件和環境，主要適用于金屬材料的快速硬度測試，特別適宜對大型零部件及不可拆卸部件的現場硬度測試。 
產品特色：  
 ●TIME5104里氏硬度計是一種良好的袖珍型硬度檢測儀器，攜帶方便易于操作； 
 ●全中文菜單式操作，背光顯示； 
 ●可預先設置硬度值上、下限，出范圍自動報警； 
 ●具有示值軟校準功能； 
 ●USB接口，可配備微機軟件，滿足質量和管理的更高要求； 
 ●可儲存270個平均值，分為9個文件，方便存取； 
 ●可測試六種硬度制（HV、HRC、HRB、HB、HV、HS），之間的轉換； 
 ●可外接打印機，打印測試結果； 
 ●帶有電壓顯示和欠電提示，有欠壓自動關機功能 
 ●TH174配有DL型沖擊裝置； 
 ●直接測試大型、重型的試件或已安裝*性的組裝部件； 
 ●體積小易于大型工件的測試狹小空間 
型 號TIME5104 
測量范圍見表1 
示值誤差和示值重復性見表2 
沖擊裝置DL 
測量方向任意 
上下限設置范圍（170-960）HLD 
電 源AAA尺寸(7#)1.5V干電池2節 
工作溫度0-40℃ 
通訊接口標準USB2.0 
外型尺寸155mm×55mm×25mm 
重 量約166g

產品名稱：四探針測試儀/四探針電阻率測試儀/四探針檢測儀/單測四探針檢測儀(不能接電腦） 產品型號：QT-RTS-4（SDY-4替代）

四探針測試儀/四探針電阻率測試儀/四探針檢測儀/單測四探針檢測儀(不能接電腦） 型號：QT-RTS-4（SDY-4替代） 
QT-RTS-4型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。 
    儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。 
    儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。 
    本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。 
QT-RTS-4型四探針軟件測試系統是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數據并對測試數據進行統計分析。 
    測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據進行各種數據分析 
技術參數： 
 測量范圍 電阻率：0.001～200Ω.cm(可擴展)；   
 方塊電阻：0.01～2000Ω/□(可擴展)；  
 電導率：0.005～1000 s/cm；  
 電阻：0.001～200Ω.cm；  

可測晶片直徑 140mmX150mm(配S-2A型測試臺)； 
 200mmX200mm(配S-2B型測試臺)； 
 400mmX500mm(配S-2C型測試臺)； 
恒流源 電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續可調 
數字電壓表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 
 分辨力：10μV； 
 輸入阻抗：>1000MΩ； 
 精度：±0.1% ； 
 顯示：四位半紅色發光管數字顯示；性、量程自動顯示； 
四探針探頭基本指標 間距：1±0.01mm； 
 針間緣電阻：≥1000MΩ；  
 機械游移率：≤0.3%； 
 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm； 
 探針壓力：5～16 牛頓(總力)； 
四探針探頭應用參數 (見探頭附帶的合格證) 
模擬電阻測量相對誤差 
( 按JJG508-87進行) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 
整機測量zui大相對誤差(用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±5% 
整機測量標準不確定度 ≤5% 
計算機通訊接口 并口 
標準使用環境 溫度：23±2℃； 
 相對濕度：≤65%； 
 無高頻干擾； 
 無強光直射；