手機翻蓋壽命試驗機 翻蓋壽命檢測儀

手機翻蓋壽命試驗機 翻蓋壽命檢測儀

型號：TCOM

 晶體少子壽命測試儀型號：LT-200

LT-200數字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀簡介 
1. 儀器應用范圍及說明 
本設備是按照標準GB/T1553“硅單晶少數載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設計制造。高頻光電導衰減法在我國半導體集成電路、晶體管、整流器件、核探器行業已運用了三十多年，積累了豐富的使用經驗，經過數次全國十多個單位巡回測試的考驗，證明是一種成熟可靠的測試方法，特別適合于硅塊、硅棒的少子體壽命測量；也可對硅片進行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面，因此制樣特別簡便。 
昆德公司數字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點： 
可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數載流子體壽命。表面無需拋光，直接對切割面或研磨面進行測量，儀器可按需方提供的有標稱值的校準樣品調試壽命值。 
1.1 可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數載流子的相對壽命，表面無需拋光、鈍化。 
1.2 液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時在線顯示光電導衰退波形。 
1.3 配置的紅外光源：0.904～0.905μm波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm，但光強較強，有利于測量低阻太陽能級硅晶體少數載流子體壽命，脈沖功率30W。 
1.4 專門為消除陷進效應增加了紅外低光照。 
1.5 測量范圍寬廣 
測試儀可直接測量： 
a、研磨或切割面：電阻率≥0.5Ω•cm的單晶硅棒、定向結晶多晶硅塊少子體壽命，切割片的少子相對壽命。 
b、拋光面：電阻率在0.5～0.01Ω•cm范圍內的硅單晶、鍺單晶厚度小于1mm的拋光片。 
2. 設備技術要求及性能指標 
2.1 少子壽命測試范圍：0.5μs~6000μs              
2.2 樣品的電阻率范圍：ρ﹥0.1Ω·cm（非回爐料）               
2.3 測試速度：1分鐘/片                       
2.4 紅外光源波長： 0.904～0.905μm                    
2.5 高頻振蕩源：用石英諧振器，振蕩頻率：30MHZ 
2.6 前置放大器，放大倍數約25，頻寬2HZ-2MHZ 
2.7 可測單晶尺寸：斷面豎測： 
直徑25mm-150mm；厚度2mm-500mm 
縱向臥測：直徑5mm-20mm；長度50mm-200mm 
2.8 測量方式：采用數字示波器直接讀數方式 
2.9 測試分辨率：數字存儲示波器zui小分辨率0.01μs  
2.10 設備重量：20 Kg  
2.11 儀器電源：電源電壓類型：單相210～230V,50Hz,帶電源隔離、濾波、穩壓，不能與未做保護措施的大功率、高頻設備共用電源

產品名稱：汽車密封條磨耗試驗機 產品型號：TH-7088B

汽車密封條磨耗試驗機 型號：TH-7088B 

汽車密封條磨耗試驗機

一、用途及技術參數

(1).用途：

TH-7088B型汽車密封條磨耗試驗機適用于各種汽車用植絨和涂層類導槽密封條及海綿涂層的門框密封條、門密封條、行李箱密封條等產品的耐磨耗試驗。

(2).技術參數:

1 型式：6錘電動式

2 試片：各類密封條產品上取樣；

3荷重：

250g（磨頭＋磨桿）

325g（磨頭＋磨桿＋鋼印325砝碼）

500g（磨頭＋磨桿＋鋼印500砝碼）

1000g（磨頭＋磨桿＋鋼印1000砝碼）

3000g（磨頭＋磨桿＋鋼印1000砝碼＋鋼印1000+砝碼2只）

4磨耗行程：0-160mm

5磨耗頭可調高度：0-50mm

     6磨耗速度調節范圍： 10-90次/分鐘

7設備體積：1020X850X630mm

設備結構特點

  1.液晶屏顯示：

1.1觸摸屏一級設置：

         A.設置磨耗試驗速度

    B.設置磨耗行程  

    1.2觸摸屏二級設置：

         A單獨設定每個試驗磨頭對應的產品名稱及產品批次.

    B單獨設定每個試驗磨頭負載質量.

   C記錄每個試驗磨頭試驗次數。（單個磨頭到達試驗次數時提示提起到達試驗次數的試驗磨頭）

   D可設定磨頭種類（如：金屬磨頭，玻璃磨頭，不銹鋼磨頭等）

    E可設定磨耗方式（如：濕磨，干磨）

   F擴展設定磨耗值（備用）：（取預磨平均值清零，磨耗試驗結束得出磨耗值）

2.底座運行采用輪式直線導軌，接觸面為線接觸，相對于滾珠式直線導軌噪音更小，同時穩定性好。

3.摩擦頭支架垂直安裝，負載砝碼直接安裝在摩擦頭支架上。

4.摩擦頭支架采用進口直線導軌，無間隙，對試樣無多余附著力。5.整體翻轉式摩擦頭支架座，需要更換磨頭時可拔出鎖緊銷旋轉90°，非常方便更換磨頭。

6.在試樣安裝平臺上，具有固定試樣的開槽壓板，兩端用肘式制鉗來固定壓板。

  7.試驗結果可打印，打印結果包括：磨耗速度，磨耗行程，每個磨頭對應的試樣名稱及批次，每個試樣的負載質量，每個試樣的磨耗次數，每個試樣的磨頭種類及磨耗方式等等。

三、依據標準

TH-7088B汽車密封條磨耗試驗機可滿足國內外的各類標準：如德國大眾技術標準TL52057、TL52417中的PV3313磨耗標準及L52641技術標準中的PV3366磨耗標準，中國汽車行業部標準《QC/T711-2004汽車密封條植絨耐磨性試驗方法》、標準《GB/T21282-2007乘用車用橡塑密封條》等各類汽車密封條磨耗試驗標準。

四、質量保證

質量保證事項

本試驗機自出廠日期起免費服務期限為一年。

五、備注

本汽車密封條磨耗試驗機可根據用戶需求改進，需要加以補充或更正，使用方可以提供圖紙或其它書面文字來進行說明。

產品名稱：多功能EDA教學仿真實驗儀 教學仿真實驗儀 產品型號： PLH-12

多功能EDA教學仿真實驗儀 教學仿真實驗儀 型號： PLH-12

產品簡介:

• 本產品是我公司根據各高校多年來在本科生、研究生開設EDA及數字系統設計自動化課程教學實踐中研制開發的；
• 應用對象主要面向理工科本科生、研究生EDA實驗及設計、也可用于科研人員從事單片機及可編程邏輯器件的數字系統開發設計；
• 系統提供了豐富的開放式的軟硬件資源及中文使用說明書和演示實例，為用戶提供了良好的運用CPLD/FPGA芯片和VHDL語言進行編程設計、仿真、下載和現場調試的開發環境；
• 該多功能開發系統滿足從簡單的數字電路到復雜的數字系統設計實驗，開發驗證，提高效率，芯片保密可靠。

特色配置:

⑴含CPLD和FPGA兩套適配器 
⑵信號源頻率范圍：0.5Hz-50MHz,共32檔次
⑶配置MAX+PLUSⅡ和QuartusII兩套軟件平臺。
⑷主板硬件資源全部開放，可供學生自行設計綜合性實驗和創新性畢業設計。

主要模塊:

• 128×64點陣LCD液晶屏（帶背光）；
• 16×16點陣的LED漢字模塊；
• 8位7段數碼管；
• EPM7128SLC84-15控制芯片及適配器；
• IN51系列單片機；
• A/D， D/A轉換模塊；
• RS232串行通信接口；
• 交通燈、流水燈、蜂鳴器；
• 0.25Hz-50MHz寬帶信號源；
• 去抖信號源、高低電平輸出控制開;
• 4×4鍵盤、紅外線收發模塊、彩色流水燈、USB接口、DSP-JTAG
• EPF10K10LC84-4控制芯片及適配器（選件）
• EPM7064SLC44-10控制芯片及適配器（選件）

主要特點:

● 多功能：系統的軟硬件配置既可實現可編程邏輯器件設計、編程、仿真、下載，可完成8位單片機（51系列）的開發設計，充分體現了MCU+FPGA/CPLD的SOC的的設計理念，實現了一機多用。
● 開放性：以開放式的系統總線結構和各功能實驗模塊構成, 支持ALTERA、AMD、XILINX、LATTICE，ATMEL等公司不同系列、不同門數規模的芯片。*克服了大多數傳統產品只能進行演示性實驗，而缺乏學生設計的硬件資源弊端，產品在系統板上對各類電源、信號源、外設套件資源等均提供了插座及接口，方便靈活地通過開關切換實現單片機控制系統、VHDL編程演示，或進行各模塊的獨立連接和設計。
● 實驗內容多樣化：既有普通教學實驗，又有綜合性開發設計實驗。所有實驗實例均來自各高校多年來在本科生、研究生教學實踐，編程實例均已通過了編譯、仿真、下載調試。內容安排依照基礎練習→設計入門→實驗與實踐→綜合設計→應用開發這*程為設計思想。使學生從簡單模仿實驗開始,逐漸鍛煉成為產品開發的精英。
● 豐富具有特色的硬件資源配置：考慮到學生進行綜合性開發設計的實際需要，主板除了常規的硬件模塊外,還專門配置了4.194302MHz及50MHz晶振，可提供0.25Hz～50MHz寬頻帶方波信號,又提供了兩路單脈沖消抖信號及高、低電平穩定信號，消除了輸入信號時產生的瞬間抖動干擾。配置了+12、-12V、+5V及+1～+12V可調電源以滿足各類實驗的需要。
● 兼容性和擴充性：系統主板配置有支持各類套件如DSP仿真器的JTAG接口、USB接口、PS/2接口、二次開發的擴展接口及紅外線接收、發送模塊及接口，從而大大拓寬了系統的應用范圍。實驗系統芯片編程利用PC機并行口通信，不需要編程器，采用無源下載線。