廠家低通抗混濾波器  抗混濾波器  型號：LK1476
簡介：頻率范圍達DC—20kHz；衰減斜率>120dB/倍頻程； 
15檔低通，5檔高通，增益為1000倍；可做電壓放大器用 
LK1476型低通抗混濾波器 
廠家低通抗混濾波器
    濾波器在電量測量，自動控制及通訊系統中已得到廣泛的應用，隨著測試技術和高科技的迅速發展，高階低通抗混濾波器以其優異的濾波性能，越來越被廣大用戶所重視。 
    LK1476型低通抗混濾波器具有如下特點： 
   1、多通道組合體積小，重量輕。 
   2、通帶內波動小。 
   3、過渡頻率段衰減斜率大。 
   4、多檔頻點可調，并且每個通道可單獨調節。 
   5、儀器設有直流(DC)檔可做電壓放大器用。 
   6、可交、直流供電。 

   1、通帶頻率范圍：  DC—20kHz 
   2、過渡段衰減斜率：>120dB/倍頻程 
   3、低通（Hz）：0.5，1，2，5，10，20，50，100，200，500，1k，2k，5k，10k，20k，共15檔 
   4、高通分為：DC、0.1、1、3、10(Hz)5檔(-3dB±1dB,6dB/倍頻程) 
   5、增益為：0.1，1，10，100，1000共5檔(總放大倍數為1000倍) 
   6、增益誤差：≤1％ 
   7、輸出電壓：5V（峰值） 
   8、通帶內不平坦度：≤0.2dB 
   9、轉角頻率誤差：≤l％ 
   10、電源：交流220V±10％，50Hz，直流12V 
   11、使用環境：無腐蝕性氣體，相對濕度<85％ 
   12、外形尺寸：寬×深×高；320×290×106mm3(8通道) 
   13、重量：約4kg

產品名稱：電路板故障維修測試儀 產品型號：GT4040UXP-Ⅱ

新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統下工作，帶有USB接口，雙CPU工作，速度更快，效率更高。可測三端器件，另外有俄羅斯庫，西門子庫，可定量測試L，C，R參數,,可對運算放大器，光耦，三端電源進行測試。 
。 

產品特點：  
在維修各種電子設備時，您是否常因圖紙資料不全而束手無策？您是否常因高昂的維 
修費用而增添煩惱？ 

[GT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利 
用電腦來彌補人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原 
理的情況下，對各種類型的電路板進行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢 
測到電路板上故障元器件。簡捷經濟地修好各種類型電路板。 

產品特點： 

◆良好的測試技術，強大的驅動能力，任何故障原因的電路板皆可修好 
◆友好簡單的中文操作界面，不經專業訓練，任何人均可成為維修專家 
◆無需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修 
◆40×2路數字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規模集成電路數據庫； 
◆40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能 
◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較 
◆與進口同類儀器比較，性價比更優，操作更方便 
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規模集成電路提供分析測試。 
◆本功能亦可通過學習記錄，比較分析來測試。  

技術規格： 
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統下工作 
雙CPU工作，速度更快，效率更高。 
功能測試40×2通道 
VI曲線測試40×2通道 
雙測試夾VI曲線測試 
網絡提取 程控加電 
EPROM/RAM在線讀取 
模擬器件 VI曲線測試 
總線隔離信號 
中文維修筆記 

一、序言 
GT/ICT系列測試儀已推出近十年。一方面漸入人心，一方面用戶也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力，成功研制出換代產品GT/ICT-Ⅱ系 

列，把GT/ICT測試儀發展到了一個新的階段，能夠更好的滿足用戶的實際需求。 
從測試技術方面來看，GT/ICT測試儀是“后驅動”、“器件模擬端口分析（ASA）”測試技術的簡單使用，而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟隨這兩項技 

術在上的發展，在總結了多年來的實際應用經驗的基礎上重新設計而成，因而有更好的測試效果；從產品的軟、硬件實現技術方面來 

看，GT/ICT軟件脫胎于DOS系統，主要由中小規模集成電路組成，而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平臺上打造，大量采用了大規模EPLD、表面貼 

裝器件等現代電路設計技術，因而具有更友好的人-機界面，更高的技術指標和可靠性。  
全面提高技術水平的目的，是改進、擴充測試功能。為突出重點，先在本文中介紹對兩個常用的測試功能：“ASA（VI）曲線測試”、“數 

字器件在線功能測試”的改進。（注意相同之處不再贅述，請參見GT/ICT測試儀的相關說明）。我們將在以后的文章中，介紹其它方面的改進 

。 
需要說明的是，市場上的GT/ICT系列測試儀有幾個版本，總體水平差別不大，僅軟件界面形式略有不同。本文主要以其中一種作為參照。 

二、對ASA（VI）曲線測試的改進 
2.1 大大擴展了故障覆蓋范圍 
這里擴展范圍，是指GT/ICT測試儀不能測試，或測試效果不好，而GT/ICT-Ⅱ能夠測試，或測試效果有較大改進。 
2.1.1 測試三端器件 
GT/ICT測試儀不能全面檢測三端器件的好壞。GT/ICT-Ⅱ*解決了這個問題。 
三端器件是指閘流管（可控硅）、MOS三管、電壓調節器等具有三個引出端，以及光藕、繼電器等可以等效成三個引出端的器件。下面以閘流 

管（可控硅）為例，來說明GT/ICT-Ⅱ如何改進了對此類元件的測試。 
用GT/ICT測試閘流管，當ASA（正弦）測試信號加在它的陽和陰之間時，控制端沒有信號，閘流管處于截止狀態，所以從曲線上只能觀察到 

截止狀態是否正常（兩之間是否短路、或有較大漏流），不能發現導通狀態是否正常。比如，會把陽和陰開路的故障誤判成截止狀態正 

常。 
GT/ICT-Ⅱ設計了一個脈沖信號，測試時加在閘流管的控制端，控制閘流管在ASA（正弦）測試信號期間出現導通、截止兩種狀態，實現了對閘 

流管進行全面的檢測。 
例1：用GT/ICT-Ⅱ測出的*閘流管的曲線 

圖中橫線是否足夠水平反映了截止狀態是否夠好、豎線是否足夠垂直反映了導通阻抗是否足夠小、豎線與縱軸的間距就是導通電壓的大小。 

（GT/ICT測試儀只能測出一根水平線。） 
測試不同的三端器件需要不同的控制方式——正弦波和脈沖的匹配（同步）形式。為了更好地滿足測試各種三端器件的不同要求，在GT/ICT-Ⅱ 

上共設置了八種匹配方式——脈沖相對于正弦波的起始、結束位置及寬度、高度均可調整；支持單向觸發、雙向觸發。詳細情況請參見產品使 

用說明。 
2.1.2 自動曲線靈敏度調整 
GT/ICT測試儀沒有ASA曲線對電路變化（故障）的自動靈敏度調整功能，有些本該能夠檢測出來的故障因此不能發現。 
我們來比較下面三組電阻的ASA曲線。  

0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K 
*組顯示了0.1K和0.15K電阻的VI曲線；第二組1K和1.5K；第三組10K和15K。盡管實際電路的相對變化大小*相同，但看上去中間兩條曲線 

差別大，兩邊的要小得多。我們說，中間組的曲線靈敏度高，而兩邊組的靈敏度低。由于ASA測試是通過曲線位置差異大小來發現故障的，所以 

，在故障測試中很可能只判斷中間組有問題。 
可以證明，VI曲線的走向趨勢越接近45度，反映電路變化的靈敏程度越高；如果VI曲線是一個封閉圖形，曲線包圍的面積越大，靈敏度越高。 
曲線的靈敏度與被測試點的特征和測試參數相關。依據具體的結點特征，調整測試參數，從而得到較高靈敏度的曲線，叫做調整VI曲線（關于 

電路故障的）靈敏度。 
GT/ICT-Ⅱ新增加了自動曲線靈敏度調整功能。對于上面三種情況，在選中自動靈敏度調整后，測到的三組曲線都和中間組一樣。 
2.1.3 測試大電容 
GT/ICT只能測試大約兩、三百微法的電解電容的好壞。GT/ICT-Ⅱ把檢測范圍擴大到了兩萬微法以上。 
排查電路板上容量較大的電解電容的漏電、容量變化導致的故障，是一件相當令人頭痛的事情。對維修測試來說，利用ASA曲線測試進行檢測可 

能是的辦法。但是GT/ICT測試儀的測試范圍小，當容量到幾百微法以上時，本該是一個橢圓的電容ASA曲線就蛻化成了一根短路線（所包圍 

的面積趨于零），根本無法判別出好壞。GT/ICT-Ⅱ加寬了測試儀的技術指標，對于高達兩萬多微法的電容，都能測出一個包圍了相當面積的橢 

圓。 
2.1.4 給同一器件的不同管腳設置不同的測試參數 
GT/ICT沒有這個功能，導致對有的器件測試效果差，有的器件無法測試。 
用GT/ICT測試儀測試一個有多個管腳的器件的曲線，所有管腳都只能使用同樣的測試參數，所有管腳都要依次測試一遍。但實際檢測中，確實 

存在不同管腳使用不同測試參數，來保證測試效果，也存在個別管腳不允許測試的情況。 
比如，集電開路器件7403的輸入是標準TTL電平，而輸出大耐壓可達32V，常用于驅動數碼管、繼電器等。測試這種器件，測試輸入、輸出 

腳的信號幅度要分別設置：對輸入應設在略大于5V；對于輸出應設置在略大于負載電壓，小于32V之間（比如驅動12V數碼管時一般用15V），才 

能達到全面檢測的目的。GT/ICT測試儀不能滿足這種使用要求。 
還有，電路板上帶電池的存儲器里面有數據，在它的電源端、片選端不能加任何測試信號，否則會導致數據丟失。GT/ICT測試儀不能測試這類 

器件。 
GT/ICT-Ⅱ測試儀考慮到了這些情況。允許分管腳設置測試參數，也允許不做測試的管腳。 
2.2 大大提高了測試可靠性 
測試可靠性是指測試結果能真實反映實際情況，不會導致用戶誤判故障的能力。 
2.2.1 曲線穩定性問題 
GT/ICT測試儀不能發現不穩定曲線，會把好電路誤判為有故障。 
即使電路**，也存在這樣的情況——在同一個管腳上，每次測到的曲線有明顯不同。這種情況叫做該處的曲線不穩定。產生不穩定 

曲線的原因以及如何讓曲線穩定下來的辦法請參見“電路在線維修測試儀上的ASA測試”?！对O備管理與維修》2006.6,2006.7。但測試儀先 

要能夠把不穩定曲線識別出來，然后才談得到處理，否則就可能把好電路誤判為有故障。 
GT/ICT-Ⅱ能夠把不穩定曲線識別出來，并且能具體指示出哪一個管腳上的曲線不穩定，這無疑有助于提高測試結果的可靠性。 
2.2.2 接觸問題 
使用測試夾學習ASA曲線的時候，器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測試夾引腳磨損等原因，經常造成夾子引腳與器件引腳接觸不上，結果 

學習到了一條虛假的開路曲線；比較曲線時也有同樣問題。這種不可靠的曲線會導致誤判，所以在實際使用中，一旦發現開路曲線，都要再次 

確認，比如打磨該引腳后重測。 
問題在于使用測試夾測試時，一次測試要處理許多條曲線。曲線多了以后，往往不能在一屏上一起都顯示出來。象GT/ICT測試儀那樣，靠人工 

從許多條曲線中確認有無開路曲線，得來回翻屏或滾屏，不但效率低，而且容易漏檢。 
GT/ICT-Ⅱ設計了自動開路曲線偵測、提示功能。在一次測試到的所有曲線中，只要存在開路曲線，會給出多種提示信息。根據提示很容易找到 

它在哪個管腳上，很難漏檢。 
2.2.3 平均曲線 
當測試大量的相同對象（比如一批同樣的電路板或相同器件）時，使用從哪個好的電路板或器件上學習到的曲線作為參照標準為呢？ 
使用GT/ICT-Ⅱ測試儀，可以先學習幾個好的電路板或器件，得到多個文件，然后利用平均曲線功能，把這些文件中的曲線自動求平均后，再自 

動生成一個新的曲線文件，作為以后的測試比較標準。該功能通常用于建立高質量的標準曲線庫。 
2.3 大大提高了使用效率 
2.3.1 迅速發現并找到異常曲線（開路、不穩定、比較差） 
用測試夾進行測試時，一次會提取、顯示出多條曲線。如何才能迅速判定這些曲線中是否有異常曲線（開路、不穩定、差），并迅速找到異 

常曲線呢？ 
使用GT/ICT，需要用戶把所有曲線逐一檢查一遍后進行判斷。不但效率，而且容易漏判。為此，GT/ICT-Ⅱ增加了新的顯示手段。 
1．前面已經說明，GT/ICT-Ⅱ能夠自動檢測異常曲線。在一次測試中哪怕只有一條異常曲線，先在屏幕上部顯著位置提示：有開路曲線或有 

不穩定曲線或比較差，以引起用戶注意；  
2．在學習曲線時，增加了按先異常、后正常排列方式，將異常管腳曲線排列在其它管腳曲線的前面；  
3．在曲線比較時，增加了按曲線誤差大小順序排列的方式，自動將誤差較大的曲線排在前面（由于比較時主要關心差曲線）； 
4．打開管腳列表窗口，直接提示在管腳號的旁邊。 
2.3.2 測試曲線 
一次測試了多條管腳曲線后，可能對某個管腳曲線有疑問，或不太滿意。比如，有異常曲線，要進行適當處理（比如對開路曲線，打磨該管腳 

）后重測；或者想修改某條曲線的設置參數后，再重測該條曲線，觀察其變化。使用GT/ICT-Ⅱ，在做完處理后，你只要用鼠標雙擊某曲線，就 

將僅僅測試這條曲線，其它曲線*不受影響。方便、快捷。 
2.3.3 由管腳號查找曲線 
當一次測試的曲線較多，一屏顯示不下時，要來回翻屏或滾屏才能查看某個管腳的曲線，影響效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接從管腳號查找曲線的 

功能。只要在腳號列表窗口中雙擊某腳號，就自動把該管腳的曲線移到屏幕顯示區，并用彩色框框起來。十分快捷。 
2.3.4 聲音提示 
雙探棒直接對照測試方式相當常用。用GT/ICT進行測試時，每測試一個引腳，要先低頭——把兩個探棒穩定接觸在相應被測管腳上，然后再抬 

頭看屏幕——確認對照結果，一上一下，有人開玩笑稱為“雞啄米”。當處理的腳數多時，相當辛苦且影響效率。 
GT/ICT-Ⅱ上設置了聲音提示。只要比較不差（這是大多數情況），計算機就發出“嗒嗒”的提示聲，類似于使用萬用表的BEEP擋，基本解決 

了這個問題。 
2.4 大大改善了人-機界面友好程度 
2.4.1 三種曲線坐標 
GT/ICT只在電壓(V)-電流坐標(I)上顯示器件的端口特征曲線，這也是通常把ASA測試叫做VI曲線測試的原因。但對有的測試結果，換一種坐標 

可能更容易理解曲線所反映的電路問題。這就好比解析幾何中有直角坐標系、又有坐標系一樣。 
GT/ICT-Ⅱ測試儀提供三種坐標：電壓(V)-電流(I)坐標、時間(T)-電壓(V)坐標和電壓(V)-電阻(R)坐標。下面給出*閘流管在兩種不同坐 

標下的曲線。 



電壓(V)-電流(I)坐標 時間(T)-電壓(V)坐標 
注意右邊的曲線。在測試（正弦）信號的四分之一處，控制上的觸發信號使閘流管導通，曲線變成一段水平線。水平線距橫軸的距離就是閘 

流管的飽和電壓。 
2.4.2 在曲線上提示參數（Tooltips） 
把鼠標光標放在曲線上，GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技術顯示出光標處的參數。十分方便。請參見上圖。 
2.4.3 管腳命名 
GT/ICT在管腳曲線上提示的管腳號只是阿拉伯數，并且所有管腳只能按數字順序一維排列。這在有些時候為不方便。 
比如，有的器件管腳是兩維排列的。橫著數是a、b、c……，豎著數是1、2、3……。b3表示位于第二列，第三行的管腳；有的電路板外引腳有 

上百個，對有的特別引腳會有專門標識—常見的是標識它上面的信號名稱。如果只能用一維數字作為管腳名，查找起來為不便。 
GT/ICT-Ⅱ既能夠自動對管腳按一維排列方式分配管腳序號，也允許用戶給管腳命名。序號和用戶命名同時提示在相應曲線上。查找起來非常方 

便。 
2.4.4 自定義曲線顯示顏色 
不同人對顏色有不同偏好。長期工作在不舒服的顏色下易于疲勞。GT/ICT-Ⅱ允許用戶修改曲線、坐標、字符、背景等的顏色設置。為自己營造 

一個較為舒服的工作環境。 

三、對數字器件在線功能測試的改進 
數字器件在線功能測試，是指對電路板上的器件直接進行邏輯功能好壞的檢測。對這項功能的改進主要包括三個方面： 
1．加強對測試條件的檢查能力； 
2．加強用戶對測試過程的控制； 
3．加強對被測試器件的在線工作環境的識別能力。 
通過上述改進，有效提高了測試結果的準確性。 

3.1對測試條件檢查能力的加強 
3.1.1 接觸檢查 
測試夾與被測器件接觸不好可能會造成錯誤測試結果。GT/ICT-Ⅱ在檢查到測試夾引腳對地電阻大于約1M歐時，會提示接觸不良（開路）。 
不過提示開路不一定總有接觸問題。比如使用在線測試功能，測試處于離線狀態的CMOS器件時，由于這種器件的輸入阻抗很高，所有輸入腳都 

會判成開路。 
實用中如果測試失敗并且提示有開路狀態，應確認是否屬于正常情況。如果測試成功，一般可忽略。 
3.1.2 電源電壓檢查 
這項測試要求必須給被測電路板加電。TTL器件的標稱工作電壓是5V±5%。電源電壓不達標有可能導致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在測試前會 

自動檢查器件上的電壓是否達標。當電源電壓*，將給出警告提示； 
3.1.3 非法電平檢查 
本測試儀僅支持5V的TTL、CMOS器件的測試。正常情況下器件所有管腳上的電平值總在大于0V，小于5V之間。但對一個有故障的電路板來說，什 

么情況都有可能發生。GT/ICT-Ⅱ在測試時一旦檢測到器件上有過電壓區間20%的電平值，將立即給以提示。為了安全起見，不再繼續測試下 

去。 
3.2對用戶控制測試過程的加強 
3.2.1 調整閾值電平 
當TTL器件的輸出低于0.8V，說它輸出為低（電平）；高于2.4V，說它輸出為高（電平）。這里的0.8V，2.4V就是TTL的低、高標準閾值電平。 

大致上說，器件的高電平越高，低電平越低越好。GT/ICT的閾值電平是做死的，不能調整。GT/ICT-Ⅱ從硬件上進行了擴充，允許用戶修改閾值 

電平。比如，允許設為0.5V，3.0V進行測試。 
這是一項很有價值的改進。實用經驗表明，使用在線維修測試儀測試一個真正好的TTL數字器件，它的高電平會遠高于標準高閾值2.4V，低電平 

比標準低閾值0.8V低很多。究其原因，可能是在線維修測試儀的測試速度比器件的實際工作速度低很多，分布參數造成的負載輕很多；反之， 

如果測試到一個器件的高、低電平很接近標準閾值，這往往表示該器件的驅動能力已明顯下降，雖然能通過測試，但不能保證上機正常工作， 

換掉。 
3.2.2 修改測試頻率 
GT/ICT-Ⅱ的測試頻率分4檔可選：45Ktv/S，20Ktv/S，5Ktv/S，1 Ktv/S（Ktv/S=千條測試向量/每秒）。缺省值為20Ktv/S。實際測試時，可根 

據具體情況選用。比如74HC類低功耗器件，測試失敗后可降低速度再試一次。 
3.2.3 加電延遲時間 
在進行測試時，GT/ICT-Ⅱ自動控制給電路板加電——測試一個器件的瞬間接通電源，測試完成后關斷。這樣的好處是避免用戶誤操作損壞電路 

扳，帶來的問題是由于電路板上一般有較大電源濾波電容，加電后，電路板上的電源電壓是逐步上升的，需要延遲一段時間后才能達到預期值 

。不同大小的電路板需要的延遲時間不同。所以GT/ICT-Ⅱ允許用戶設定接通電源延遲多長時間后開始測試。 
3.3對器件在線工作環境識別能力的加強  
測試電路板上的器件時必須使用適當的隔離技術來消除關聯器件對被測試器件的影響。后驅動隔離技術專門用于數字器件的在線測試隔離。 
后驅動技術有一定的使用條件，不滿足這些條件就會由于隔離不成功而測試失敗，把好器件測成壞器件。對在線器件工作環境的識別，就是盡 

量把影響后驅動技術正確使用的情況檢查出來，避免誤判。 
3.3.1后驅動技術原理及應用中的問題 
后驅動技術是美國人在上世紀60年代發明的?？珊唵握f明如下： 
電路結點一般由器件的一個輸出和若干個輸入組成。參見圖一。設測試U3，就要在U3各輸入腳所在的電路結點上施加測試信號。由于決定結點 

電位的是器件輸出而不是輸入，參見圖中的X結點，在該結點上加信號實質上是如何驅動U1的、與X引腳關聯的輸出，使它能夠根據測試要求為 

高或為低。U3的輸出可以直接取回來。 
假定X結點當前狀態為低電平，怎樣把它驅動至高電平呢？參見圖二給出的TTL器件的典型輸出結構。 


輸出低電平時，Q1截止，Q2飽合，這個低電平就是Q2的飽合壓降，約在0.3V以下。Q2的飽和條件為：β2*Ib2>>Ic2。通過測試儀給Q2的集電 

注入一個足夠大的電流，使Ic2變得很大，Q2脫離飽合，它的輸出就會升起來。問題在于Q2上的功耗：P=Ic2*Vce2 會隨Ic2、Vce2的增加迅速增 

加到P > Pcm（大額定功耗）。這是否會損壞Q2呢？后驅動技術證明，只要驅動時間不過26毫秒，不會有問題。在發達，滿足這個時間 

要求的在線測試儀器允許用于設備。 
對于輸出為高而要驅動為低的情況，分析方法相同，只是把向Q2集電灌電流改為從Q1發射拉電流。 
從以上對后驅動技術的說明可以看出： 
1．后驅動技術用于隔離數字器件之間的關聯對測試的影響； 
2．假定一個電路結點由一個輸出多個輸入組成； 
3．被測試器件上不能有其它邏輯信號； 
4．不能處理異步時序電路。 
然而在實際電路板上，確實存在著數字器件和非數字器件關聯（比如數字器件輸出驅動晶體管基、運放驅動數字器件輸入）、一個電路結點 

上有不止一個數字器件輸出（比如數據總線）、被測器件上有其它邏輯信號（比如板上有晶振）等等。這些情況經常會影響后驅動技術的正確 

使用（一般稱作隔離不開），會導致不正確的測試結果。 
3.3.2 對和非數字器件相關聯的處理 
這種情況造成隔離失敗的原因，主要是結點電位被非數字器件鉗死，或者驅動信號被非數字器件吸收，加不上去（也相當于電平被鉗位）。下 

圖中給出了兩種常見的結構。 

GT/ICT-Ⅱ能把這些情況識別出來，以管腳狀態的形式提示給用戶，當器件測試失敗后，供用戶進一步分析。GT/ICT-Ⅱ能夠識別出6種與此相關 

的管腳狀態： 
電 源：恒高且為電源腳； 
恒 高：不可驅動至低于高閾值； 
不可高：不可驅動至高于高閾值； 
不可低：不可驅動至低于低閾值； 
恒 低：不可驅動至高于低閾值； 
地 ：恒低且為地腳。 
3.3.3 對多輸出結點的處理 
對多輸出結點通常要用總線競爭屏蔽信號（GUARD信號）去解除非被測試器件的輸出對被測器件輸出的影響。有的版本的GT/ICT測試儀沒有 

GUARD信號、有的版本只有1、2個GUARD信號—－這在許多情況下不夠用；有的版本的GUARD信號不可控，僅是通過一個小電阻接到電源上——這 

不符合后驅動技術的要求，會損壞被屏蔽器件。（詳細說明請參閱有關文章） 
GT/ICT-Ⅱ設置了8個*后驅動技術的要求GUARD信號，并且用戶可控。 
3.3.4 對板上有邏輯信號的處理 
電路板上的邏輯信號可能干擾正確測試。GT/ICT-Ⅱ在測試前會進行檢查。如果在被測器件的管腳上發現有邏輯信號，會作為一種管腳狀態“有 

翻轉”提示出來。由于這種情況可能影響、也可能不影響測試結果，所以當測試成功后，可忽略；當測試失敗時，才需要用戶處理。 
3.3.5輸入浮動 
管腳狀態“輸入浮動”一般情況下是該管腳懸空。除非該管腳直接與電路板的插腳相連，否則意味著該腳斷線。盡管這并不影響對該器件的測 

試，但它反映了電路板上一個可能的故障，所以也作為一種管腳狀態提示出來。 
3.4 提高測試準確性的一般方法 
從以上討論可以看出，受測試條件、器件工作環境的影響，在線測試的結果有一定的不確定性。從進口測試儀產品來看，主要通過兩種辦法來 

提高測試的準確性： 
1．加強對影響測試結果的外部因素的識別能力。在測試儀產品上的具體體現，就是的測試儀能識別的管腳狀態種類多，低檔的能識別的狀 

態少。比如某進口測試儀能識別約15種、GT/ICT-Ⅱ能識別約11種、GT/ICT大約僅4、5種。 
2．由于在線測試的不確定性，把整個測試過程盡量詳細的顯示出來，供用戶結合測試結果進行進一步分析，這幾乎可以說是在線測試的基本設 

計原則之一。GT/ICT-Ⅱ比較好的貫徹了這個原則。遺憾的是某些國產測試儀的設計者沒有真正理解這一點，有些測試功能僅給出“測試通過” 

、或“測試失敗”的提示，測試過程幾乎沒有提示。 

四、結語 
電路在線維修測試儀所依據的技術原理并不復雜，但是依據同樣這些技術做出的測試儀產品卻是千差萬別，而且許多差別，是在你比較深入的